公眾號(hào):mywangxiao
及時(shí)發(fā)布考試資訊
分享考試技巧、復(fù)習(xí)經(jīng)驗(yàn)
新浪微博 @wangxiaocn關(guān)注微博
聯(lián)系方式 400-18-8000
通信設(shè)施質(zhì)量檢測(cè)
通信設(shè)施質(zhì)量檢測(cè)項(xiàng)目與方法
通信設(shè)施的質(zhì)量檢測(cè)項(xiàng)目主要包括產(chǎn)品的質(zhì)量和安裝質(zhì)量的檢測(cè)。產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)主要包括設(shè)備名稱、型號(hào)、規(guī)格。出廠合格證檢查、設(shè)備及產(chǎn)品勝能檢測(cè);安裝質(zhì)量檢測(cè)主要檢測(cè)其供電系統(tǒng)。接地電阻、絕緣性能及通信傳輸質(zhì)量。
1.光纜線路測(cè)試
1)光纜測(cè)試
對(duì)于單光纜或綜合光纜,應(yīng)檢測(cè)光纖的幾何、光學(xué)、傳輸特性。機(jī)械物理特性等出廠測(cè)試記錄。應(yīng)對(duì)綜合光纜的全部低頻四線組及對(duì)絞線對(duì)的電特性進(jìn)行測(cè)試,而對(duì)綜合光纜或單光纜的光纖損耗及長(zhǎng)度進(jìn)行抽查,并與出廠測(cè)試記錄進(jìn)行比較,若不相符則應(yīng)進(jìn)行全部測(cè)試。
對(duì)光纜的光纖損耗及長(zhǎng)度進(jìn)行測(cè)試時(shí),一般采用背向散射法,即用光時(shí)域反射儀(簡(jiǎn)稱OTDR)進(jìn)行測(cè)試。
2)光纖接續(xù)損耗測(cè)試
光纖接續(xù)方法大致分為三種,即熔接法、機(jī)械接續(xù)法和粘接法。由于熔接法接續(xù)損耗小??煽啃愿?,因此得到了廣泛采用。熔接機(jī)通常能顯示出接續(xù)損耗值,但這是熔接機(jī)通過(guò)對(duì)光纖接續(xù)處的幾何尺寸推定出來(lái)的值。
3)光中繼段測(cè)試
光中繼段測(cè)試應(yīng)包括二項(xiàng)內(nèi)容,第一是光纖衰減測(cè)試,可用OTDR測(cè)試,也可用光源、光功率計(jì)測(cè)試;第二是對(duì)于DSH(同步數(shù)字系列)傳輸系統(tǒng)傳輸速率大于622Mb/s時(shí)S點(diǎn)回波損耗。
4)光纜故障測(cè)試
光纜故障測(cè)試主要是故障定位,這是光纜施工和日常維護(hù)中不可缺少的內(nèi)容。故障定位通常采用背向散射法和移動(dòng)法測(cè)試。
2. 光、電接口測(cè)試
1)PDH光接口測(cè)試
PDH(準(zhǔn)同數(shù)字系列)光纖數(shù)字通信設(shè)備可分為兩大類(lèi),一類(lèi)是光設(shè)備(如光端機(jī)等),一類(lèi)是電設(shè)備(如電端機(jī)、復(fù)用設(shè)備等)。因此,設(shè)備接口也就分為兩類(lèi)接口,即光接口和電接口。
光接口測(cè)試主要有四項(xiàng)內(nèi)容,即平均發(fā)送光功率、消光比、光接收機(jī)靈敏度、光接收機(jī)動(dòng)態(tài):范圍。這四項(xiàng)指標(biāo)中的很多指標(biāo)ITU1元明確建議,需根據(jù)設(shè)備出廠指標(biāo)及光纖數(shù)字通信系;統(tǒng)設(shè)計(jì)來(lái)確定。
2)PDH電接口測(cè)試
這里提及的電接口是指光端機(jī)和電端機(jī)連接接口。光端機(jī)的電接口主要指標(biāo)與測(cè)試方法與電端機(jī)基本相同。對(duì)于電接口一般要測(cè)試輸人口允許連線衰減、輸入口允許碼速偏移,輸人口反射衰減、輸出口脈沖波形乙。
3)SDH網(wǎng)元接口測(cè)試
SDH傳輸系統(tǒng)中,允許不同廠家的設(shè)備在光接口上互連,因此,應(yīng)對(duì)網(wǎng)元的光接口進(jìn)行測(cè)試。在工程中一般應(yīng)對(duì)平均發(fā)送光功率、光接收機(jī)靈敏度、光接收機(jī)過(guò)載點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。當(dāng)傳輸速率超過(guò)622Mb/s(含622Mb/s)時(shí),還應(yīng)對(duì)光接收機(jī)R點(diǎn)反射系數(shù)進(jìn)行測(cè)試。
(責(zé)任編輯:gx)